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                                掃描電子顯微鏡SEM專用主動隔振臺

                                Zeiss蔡司掃描電子顯微鏡SEM主動隔振臺,Hitachi日立掃描電鏡SEM主動隔振臺,日本電子JEOL掃描電鏡SEM主動隔振臺,FEI掃描電子顯微鏡SEM主動隔振臺,Tescan泰思肯掃描電子顯微鏡SEM主動隔振臺,Phenom掃描電鏡SEM主動隔振臺

                                名稱:掃描電子顯微鏡SEM主動隔振臺
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                                掃描電子顯微鏡SEM專用主動隔振臺

                                KNS ArisMD主動隔振臺


                                簡介:專為掃描電子顯微鏡設計的主動隔振臺,由多個ArisMD主動隔振模塊構成,獨立模塊,分布式控制。


                                用途:用于消除或降低地表附近震動源產生的震動,從而消除或減少由于地表震動(包括附近建筑和設備所產生的震動)傳導入SEM掃描電子顯微鏡而引起的震動干擾,保證掃描電子顯微鏡SEM的運行環境和工作狀態。


                                技術規格:

                                主動隔振頻率:0.5~100Hz

                                主動隔振自由度: 6個自由度

                                震動響應時間:<=0.1Sec

                                隔振性能:8dB gain on 1Hz (60%~70% @ 1Hz); 20dB gain on 2Hz(>=90% @ 2Hz)

                                主動隔振模塊尺寸:230mmX270mmX75mm

                                承載重量:由主動隔振模塊數量決定


                                主要優勢:

                                高性能,低成本

                                結構緊湊,安裝簡易,可直接集成到掃描電鏡底部框架

                                安裝成本低,安裝時間短(3~5h),安裝后無需再調校掃描電子顯微鏡

                                獨有的實時性能檢查工具、實時性能調整工具

                                獨有的遠程服務工具


                                電子顯微鏡主動隔振臺.jpg掃描電子顯微鏡SEM主動減震臺.jpg透射電子顯微鏡TEM主動防震臺.png
                                FEI電子顯微機ing主動隔振臺.jpgZeiss蔡司電子顯微鏡主動減震臺.jpg日本電子JEOL電鏡主動防震臺.jpg


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