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                                Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案

                                作者:至一科技 日期:2021-01-02 點擊:2065
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                                Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案

                                SOTOMD300-M被動隔振系統


                                背景:半導體光電測試應用

                                使用單位:深圳市海思半導體有限公司

                                地點:廣東省深圳市龍崗區坂田華為基地F區

                                設備:Hisilicon半導體光電檢測設備

                                隔振方案:SOTOMD300-M


                                半導體隔振系統.jpgSOTOMD被動隔振系統.jpg
                                海思半導體設備SOTOMD隔振臺.jpg
                                Hisilicon半導體光電檢測設備SOTOMD300-M被動隔振系統安裝應用圖


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